產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測(cè)試儀
GDW-250電阻高溫度特性測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)
NLD-AI全自動(dòng)高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測(cè)試儀
GEST-121體積表面電阻測(cè)定儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心粉末綜合測(cè)試儀陶粒砂體積密度測(cè)定儀
product
產(chǎn)品分類(lèi)
粉末陶粒砂測(cè)試儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱(chēng)為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱(chēng)為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2025-01-06
產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350
瀏覽量：1223
陶粒砂體積密度測(cè)試儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱(chēng)為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱(chēng)為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2025-01-06產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350瀏覽量：1221
粉末陶粒砂測(cè)定儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱(chēng)為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱(chēng)為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2025-01-06產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350瀏覽量：1346陶粒砂體積密度測(cè)定儀 單位堆積體積的支撐劑質(zhì)量稱(chēng)為支撐劑體積密度；單位堆積體積的陶粒質(zhì)量稱(chēng)為陶粒的體積密度， 是包含陶粒本身、開(kāi)口氣孔和閉口氣孔三部分的平均密度。1.漏斗上口到桶狀容器底板儀器臺(tái)面總 高304.8mm；支撐劑下落點(diǎn)起到一儀器臺(tái)面的距離215.9mm；2.漏斗高76.2mm；漏斗口高12.7mm； 桶狀容器高76.2mm；
更新時(shí)間：2025-01-06產(chǎn)品型號(hào)：ZKMD-1350瀏覽量：1282